全球装备网：飞行时间二次离子质谱仪PHI nanoTOF3+

　　特征

　　先进的多功能TOF-SIMS具有更强大的微区分析能力，更加出色的分析精度

　　飞行时间二次离子质谱仪

　　新一代TRIFT质量分析器，更好的质量分辨率

　　适用于绝缘材料的无人值守自动化多样品分析

　　离子束技术

　　平行成像MS/MS功能，助力有机大分子结构分析

　　多功能选配附件

　　TRIFT分析器适用于各种形状的样品宽带通能量+宽立体接收角度

　　宽带通能量、宽立体接受角-适用于各种形貌样品分析

　　主离子束激发的二次离子会以不同角度和能量从样品表面飞出，特别是对于有高度差异和形貌不规则的样品，即使相同的二次离子在分析器中会存在飞行时间上的差异，因此导致质量分辨率变差，并对谱峰形状和背景产生影响。TRIFT质量分析器可以同时对二次离子发射角度和能量进行校正，保证相同二次离子的飞行时间一致，所以TRIFT兼顾了高质量分辨率和高检测灵敏度优势，而且对于不平整样品的成像可以减少阴影效应。

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